圖片僅供參考,產品以實物為準

產品名稱

日置(HIOKI) C測試儀3504-5

產品型號

日置(HIOKI) C測試儀3504-50

產品內部編號

C測試儀3504-50

產品價格

¥0.00

生產廠商

日本日置

日本日置
產品分類

日置HIOKI C測試儀3504-50產品詳細規格

C測試儀3504-50

G速測量2ms
能根據C 和D (損耗系數*2)的測量值,進行被測物合格與否的判斷
對應測試線,比較器功能/觸發輸出功能
3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試
3504-40記錄工具,實現G速/低成本的測試
查出全機測量中的接觸錯誤,提G成品率

基本參數

測量參數 Cs,Cp(電容),D(損耗系數tanδ)
測量范圍 C:0.9400pF~20.0000mF
         D:0.00001~1.99000
基本精度 (代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
         ※測定精度= 基本精度× B× C× D× E, B~E為各系數
測量頻率 120Hz, 1kHz
測量信號電平 恒壓模式: 100mV (僅限3504-60), 500 mV, 1 V
         測量范圍:
         CV 100mV:~ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz)
         CV 500mV: ~ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz)
         CV 1V: ~ 70μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 700μF 量程 (測量頻率 120Hz)
輸出電阻 5Ω(CV測量范圍以外的開路端子電壓模式時)
顯示 發光二級管 (6位表示,滿量程計算器根據量程而定)
測量時間 典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST)
         ※測量時間根據測量頻率、測量速度的不同而不同
功能 BIN分類測量 (3504-40除外), 觸發同步輸出, 測量條件記憶, 測量值的比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動功能, 控制用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C接口(標配), GP-IB接口(3504-40除外)
電源 AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇), 50/60Hz, Z大110VA
體積及重量 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件 電源線×1,預備電源保險絲×1,使用說明書×1


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