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日置HIOKI C測試儀 3506-10產品詳細規格
C測試儀 3506-10
模擬測量時間0.6ms(1MHz)的G速測量
提G了抗干擾性，在產線的上也能實現G反復精度
1kHz、1MHz測量下，低電容的貼片時可穩定測量
根據BIN的測定區分容量
基本參數
| 測量參數 | C(電容),D(損耗系數tanδ), Q (1/tan δ) |
|---|---|
| 測量范圍 |
C:0.001fF～15.0000μF D: 0.00001 ～ 1.99999 Q:0.0 ～ 19999.9 |
| 基本精度 | (代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013 |
| 測量頻率 | 1kHz, 1MHz |
| 測量信號電平 | 500mV, 1V rms |
| 輸出電阻 | 1Ω (在1kHz 時2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程) |
| 顯示 | LED(6位顯示,滿量程由點數有效距離來決定) |
| 測量時間 | 1.5ms：1MHz， 2.0 ms：1kHz |
| 功能 | BIN分類測量, 觸發同步輸出, 測量條件記憶, 測量值比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動功能, 電流檢測監視功能, 輸出電壓值監視功能, 控制用輸入輸出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口 |
| 電源 | AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇), 50/60Hz, 40VA |
| 體積及重量 | 260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg |
| 附件 | 電源線× 1, 電源備用保險絲× 1，使用說明書× 1 |